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01 标准推荐电流探头法测试电磁屏蔽性能
试验原理图如下:
02 电流探头法缺陷之测量位置难以界定
电流探头法测试电磁屏蔽性能的基本原理:
既然线缆组件的辐射场是由其中的共模电流产生的,那么我们可以通过测试该共模电流来代替测试实际的辐射场强,然后屏蔽性能可以定义为电流比值(无屏蔽时/有屏蔽时)。理论上来说,这个电流可以用电流探头很轻易地就可以测量,既简单物理图像又清晰,这也是该方法的最大优点。
但缺点也是显而易见,低频时,导体的电场分布如下图所示:
但高频时,情况将发生本质变化
高频时,如上图所示,场的分布是不均匀的,并且具有周期性,而电流探头一次只能测试一个位置点。那么问题来了,为了全面反映样品的性能,探头应该以扫描的形式来获取每一个部位的电流值。但是标准的建议如下:
如标准所说,只测量3个位置,是无法准确反应实际情况的。进一步分析会发现更多问题,测量值是按最大值、平均值还是最小值呢?
03 电流探头法缺陷之探头引起场畸变
标准对于电流探头的要求如下:
但是查阅GB/T 18655-2010,并没有详细的规定来规范电流探头的制作,这里面就留下了很多违规的空间。
试想一下,把电流探头和一个铁氧体磁环整合在一起,当扫描时移动铁氧体磁环就可以间接改变被试品的长度,从而改变了辐射特性,试验结果将有待商榷。
04 如何评判电磁屏蔽性能
标准推荐如下:
1、在去除整个连接系统屏蔽层的同时,还要保证试验布置不变,实施起来确实比较困难。
2、另外一个问题,这个方法是测试的电缆,而不是测试的连接器。如果连接器本身不是显性表现(即电缆辐射比连接器辐射强,遮盖住了连接器),那最终的试验将变成评估高压电缆的电磁屏蔽性能。
以上都是我个人粗浅的看法,权当抛砖引玉,欢迎大家一起来探讨,最后附上一张对比图。